Пн - Пт: c 8.00 - 18.00 Сб - Вс: выходной

Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic T8000

Временно отсутствует
Цена по запросу

Производитель: JENOPTIK (Hommel-Etamic)

Производство: Германия

Гарантия: 1 год

  • Описание
  • Документы

Hommel-Etamic Т8000 - это лабораторный прибор для контроля шероховатости и контура поверхности.

Предназначен для определения большинства параметров шероховатости по действующим в настоящее время стандартам и расчет специальных параметров.

 

Функциональные характеристики Hommel-Etamic T8000:

 

 

Модульная конструкция прибора позволяет максимально точно подобрать комплектацию прибора с учетом задач заказчика и производить одновременные измерения шероховатости и профиля поверхности. Обеспечивает хранение неограниченного числа измерительных программ и протоколов. Возможность использования любых принтеров, поддерживаемых Windows. Возможность сопряжения со всеми программами Windows, напр. Winword, Excel, Write, Access и т.д. Имеется возможность контроля микро- и макропрофилей, а также определения топографии поверхности.

 

Технические характеристики Hommel-Etamic T8000:

 

Принцип измерения

контактный, с применением опорных и безопорных щупов

Класс точности по DIN4772

Класс 1 (3%)

Диапазон измерения/разрешение

± 8 мкм / 1 нм

 

± 80 мкм / 10 нм

 

± 800 мкм / 100 нм

 

± 8000 мкм / 1000 нм

Единицы измерения

Переключаемые мкм/мкдюйм

Применяемые фильтры:

 

отсечка шага

0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм),

 

выбираемая

DIN 4768

RC дискретно вычисляемый (мм),

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс)

Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм),

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 13565-1

Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

ISO 3274/11562

Предельная длина коротких волн лs

 

выбор по ступеням λc / λs 30; 100; 300

Скорость трассирования vt

lt - заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с

 

или переменная 0,01 - 2,0 мм/с на 0,01 ступени

Длина трассирования lt

0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 - 200 мм

Длина оценки lm

0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн

Отсечка шага λ [мм]

0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

Измеряемые параметры шероховатости

 

DIN EN ISO 4287

Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api

по DIN EN ISO 13565

Rk parameters Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk

Профильные параметры по DIN EN ISO 4287

Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc

Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287

Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc

Параметры волнистости по VDA 2007

WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm

Параметры Motif по DIN EN ISO 12085

R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Pδ c (CR, CL, CF)

Статистика

от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение

Режимы работы

Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография

Выравнивание профиля

инверсия, грубое. точное, частичное

Подключаемые периферийные устройства:

Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200

 

Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800

 

Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200

 

Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий

 

топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y

 

поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей

Электропитание

100 В - 120 В / 200 В - 240 В, переключаемое, 50 - 60 Гц, 235 ВА

Рабочая температура

+5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (ΔТ=2ºС/ч)

Температура хранения

-20 °C От до +50 °C