- Описание
- Документы
Hommel-Etamic Т8000 - это лабораторный прибор для контроля шероховатости и контура поверхности.
Предназначен для определения большинства параметров шероховатости по действующим в настоящее время стандартам и расчет специальных параметров.
Функциональные характеристики Hommel-Etamic T8000:
Модульная конструкция прибора позволяет максимально точно подобрать комплектацию прибора с учетом задач заказчика и производить одновременные измерения шероховатости и профиля поверхности. Обеспечивает хранение неограниченного числа измерительных программ и протоколов. Возможность использования любых принтеров, поддерживаемых Windows. Возможность сопряжения со всеми программами Windows, напр. Winword, Excel, Write, Access и т.д. Имеется возможность контроля микро- и макропрофилей, а также определения топографии поверхности.
Технические характеристики Hommel-Etamic T8000:
Принцип измерения |
контактный, с применением опорных и безопорных щупов |
Класс точности по DIN4772 |
Класс 1 (3%) |
Диапазон измерения/разрешение |
± 8 мкм / 1 нм |
|
± 80 мкм / 10 нм |
|
± 800 мкм / 100 нм |
|
± 8000 мкм / 1000 нм |
Единицы измерения |
Переключаемые мкм/мкдюйм |
Применяемые фильтры: |
|
отсечка шага |
0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм), |
|
выбираемая |
DIN 4768 |
RC дискретно вычисляемый (мм), |
|
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс) |
Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм), |
|
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
DIN EN ISO 13565-1 |
Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры |
|
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
ISO 3274/11562 |
Предельная длина коротких волн лs |
|
выбор по ступеням λc / λs 30; 100; 300 |
Скорость трассирования vt |
lt - заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с |
|
или переменная 0,01 - 2,0 мм/с на 0,01 ступени |
Длина трассирования lt |
0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 - 200 мм |
Длина оценки lm |
0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн |
Отсечка шага λ [мм] |
0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
Измеряемые параметры шероховатости |
|
DIN EN ISO 4287 |
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api |
по DIN EN ISO 13565 |
Rk parameters Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk |
Профильные параметры по DIN EN ISO 4287 |
Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc |
Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287 |
Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc |
Параметры волнистости по VDA 2007 |
WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm |
Параметры Motif по DIN EN ISO 12085 |
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Pδ c (CR, CL, CF) |
Статистика |
от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение |
Режимы работы |
Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография |
Выравнивание профиля |
инверсия, грубое. точное, частичное |
Подключаемые периферийные устройства: |
Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200 |
|
Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800 |
|
Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200 |
|
Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий |
|
топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y |
|
поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей |
Электропитание |
100 В - 120 В / 200 В - 240 В, переключаемое, 50 - 60 Гц, 235 ВА |
Рабочая температура |
+5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (ΔТ=2ºС/ч) |
Температура хранения |
-20 °C От до +50 °C |